Главная - Кафедры - Кафедра физического материаловедения - Лаборатория рентгенофазового анализа

Лаборатория рентгенофазового анализа

Руководитель лаборатории – ведущий инженер Степанов С.П.
Научный руководитель лаборатории – к.ф.-м.н., доцент Грачева Т.А.

Лаборатория оснащена автоматизированным рентгеновским дифрактометром ДРОН-3 и автоматизированной установкой для малоуглового рентгеновского рассеяния, разработанной специалистами кафедры ФМВ. Расшифровка рентгенограмм проводится с использованием специализированного программного обеспечения, реализующего метод корундовых чисел и метод Ритвельда.

 

Результаты рентгенофазового анализа (слева) и микроструктура (справа) нанопорошков карбида вольфрама, полученных методом плазмохимического синтеза в ИМЕТ РАН (авт. Ланцев Е.А., Степанов С.П.). Результаты исследований опубликованы в журнале “Journal of Alloys and Compounds” (2017 г.).

Лаборатория обеспечивает выполнение дипломных и научно-исследовательских работ студентами и аспирантами кафедры физического материаловедения, а также проведение практических занятий и практикумов по рентгенофазовому и рентгеноструктурному анализу для студентов бакалавриата кафедры ФМВ, в том числе:

  • Метод порошков (Дебая-Шеррера).
  • Получение дебаеграмм и дифрактограмм поликристаллических образцов. Обработка дифракционных спектров и вычисление параметров кристаллической структуры поликристаллов с кубической решеткой.
  • Метод Лауэ. Ориентация кристалла. Получение и индицирование лауэграмм.
  • Рентгенофазовый анализ. Качественный фазовый анализ двух- и многофазных систем. Количественный анализ методом градуировочных кривых.
  • Расшифровка дифрактограмм (рентгенофазовый анализ) методом корундовых чисел.
  • Расшифровка дифрактограмм (рентгенофазовый анализ) методом Ритвельда.
  • Прецизионный метод определения параметров решетки. Определение типа твердого раствора и концентрации растворенного компонента.
  • Рентгеновский анализ аксиальной текстуры на дифрактометре.
  • Определение больших периодов в ориентированных полимерах.
  • Исследование структуры наносистем методом малоугловой рентгенографии.
  • Определение величины области когерентного рассеяния (размера кристаллита) в нанопорошковых системах и поликристаллических металлических и керамических образцах.
  • Определение внутренних микро- и макронапряжений в металлических и керамических материалах.

Результаты исследований влияния на уширение рентгеновского пика (420) внутренних микронапряжений, создаваемых частицами карбида кремния α-SiC в керамике YAG:Nd, используемой в ядерной энергетике для инертных топливных матриц: 1 – порошок YAG:Nd, 2 – спеченная керамика YAG:Nd, 3 – керамика YAG:Nd+10%SiC, 4 – керамика YAG:Nd+20%SiC (микроструктура – на картинке справа). (авт. Головкина Л.С.). Полученные результаты опубликованы в журнале “Materials Research Bulletin” (2018 г.).

Результаты исследований влияния температуры отжига на внутренние микронапряжения в образцах аустенитной стали 316L и жаропрочного никелевого сплава Inconel-718, полученных методом селективного лазерного сплавления (авт. Зеленов А.Ю., Пятерикова В.В., Степанов С.П.).

Все новости